アルバック・ファイ 飛行時間型二次イオン質量分析装置の最新モデルの販売を開始 ～熟練度に左右されない高品質なデータを提供～
アルバック・ファイ株式会社（本社：神奈川県茅ヶ崎市、社長 原 泰博）は、飛行時間型二次イオン質量分析装置（TOF-SIMS：Time-of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometry）のフラッグシップモデルとなる「PHI nanoTOF 3⁺」の販売を開始しました。
飛行時間型二次イオン質量分析装置「PHI nanoTOF 3⁺」外観
概要
このたび、PHI nanoTOF 3⁺の販売を開始しました。前機種であるPHI nanoTOF 3から2年ぶりの新製品リリースとなります。新機種では、PHI nanoTOF 3をベースに、新たに以下の3つの機能が加わりました。
新開発アナライザーの搭載
新開発アナライザーでは、従来のTRIFT型アナライザーの特長を受け継ぎながら、質量分解能（m/Δm）を12,000から15,000に向上させ、これにより今まで分離できなかったピークを明確に分離することが可能となりました。高精度で信頼性の高い質量分析を実現し、研究や産業分野でのニーズに応えるための最適なソリューションを提供します。
多角的な分析を可能にする新試料搬送機構
PHI nanoTOF 3⁺における新試料搬送機構は、当社XPS、AES装置間で完全な互換性を実現し、多角的な解析を可能にします。最先端の材料分析においては、一つの分析手法だけでは全てを理解することが難しく、様々な視点からの詳細な分析が必要です。さらに、この新機構は、大気非曝露での装置間試料搬送も可能にします。電池材料や触媒材料をはじめとする先端材料の分析には必須のツールです。
測定のオートメーション化
PHI nanoTOF 3⁺の最大の特長は、連続自動無人測定機能の搭載です。従来の手動測定から大幅に進歩しました。試料導入室で取得した画像を基に、測定箇所及び測定レシピを決めた後は、完全自動で連続測定が行うことができます。この新機能は、半導体や電池などの無機材料から、高分子材料、生体材料などの有機材料まで、あらゆる種類の材料に対して有効です。さらに、これまでは測定データの質が測定者のスキルに大きく依存していましたが、誰でも高品質なデータが得られるようになります。
以上のように、PHI nanoTOF 3⁺は、幅広い試料に対応し、測定の効率性と信頼性を向上させるだけではなく、熟練度に左右されない高品質なデータを提供します。これにより、研究や品質管理の分野での利用価値が飛躍的に向上します。
出荷開始
2024年4月より
本件に関するお問合せ先
アルバック・ファイ株式会社 製品戦略部 TEL: 0467-85-6522（代表）