SiC功率器件离子注入

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提供高能量注入、高温和低温的分步注入工艺。此外,还可以提供Carbon-Cap技术,以防止在活化退火过程中由于Si蒸发而导致的基板粗糙。

Challenges

兼顾高浓度·低浓度注入

SiC在进行高浓度注入时会发生晶体缺陷,退火也不会恢复,因此需要在高温下处理。 另一方面,众所周知,在低浓度注入中,常温注入具有更好的特性。

SiC的热扩散

由于SiC难以热扩散,因此需要更高的能量才能更深入地注入。

高温工艺引起的表面粗糙

由于 SiC 的活化温度在 1600 至 1800°C 之间,Si脱落引起表面粗糙的问题。

 

解决方案

高温、常温注入工艺

搭载可瞬间切换高温600℃和常温注入的Dual Platen,实现高产能
高温处理通过ULVAC独有的基板升温方式实现高温下的工艺稳定性和搬送可靠性

在高浓度注入的情况下,即使进行退火,晶体也不会恢复。 在低浓度注入情况下,即使在室温下也维持结晶。

高能量注入

覆盖10kV~1.2MeV的能量、支持广泛的工艺范围。

10KV~1.2MeV的Box profile

SiC特有的高温工艺

离子注入、Carbon-Cap、退火工艺,爱发科可以提供全面工艺解决方案。

离子注入+CAP(各温度下退火处理后的表面状态)

相关设备介绍

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