面向压电MEMS的PZT薄膜刻蚀工艺

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提供与作为下部电极的Pt具有高选择性的Pt/PZT刻蚀工艺。(选择比例:PZT/Pt>5@8inch, >10@6inch)​

此外还提供最小化下部电极刻蚀量的高均匀性(<+/-3%@8inch)和精密的End point检测。

Challenge

・PR侧壁PZT附着

由于是难刻蚀材料,刻蚀产物容易附着在侧壁上

・与下部电极的选择比

 

该膜由数μm的PZT膜和约100nm的金属电极构成,使得留下下部电极的8英寸工艺变得困难

・稳定生产

由于 EPD 信号下降等原因,难以稳定生产

 

解决方案

・使用PZT多层膜专用等离子体源

实现刻蚀分布3%以下。实现Pt/PZT的选择比>5@8inch晶圆(>10@6inch晶圆)

・通过高均匀性和精密的终点检测,使各刻蚀膜下部的层的刻蚀量最小化

・可以在不降低EPD信号和刻蚀速率的硬件上稳定生产

可稳定生产6~8英寸

 

Etching Profile Uniformity of Pt/PZT Film @ 8inch

针对8英寸,稳定地提供保留下部Pt的工艺

Material : Pt/PZT/Pt

Mask : Photo Resist

Size : Depth 100/3000/100nm

ER : Pt > 200nm/min  PZT > 150nm/min

Selectivity : Resist/PZT > 0.6  PZT/Pt > 5.0

 

End point detecting results of various layers

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