スパッタリング、エッチングなど複数の異なるプロセスモジュールを同一搬送コアに搭載し、可能な限り構成部品の共通化を行い、スペア部品の低減や同一操作画面による使い勝手向上など、電子部品の製造工程において更なる効率化を実現いたします。
※プロセスによって組合せ不可の場合がありますので、ご相談ください。
以下一例です。
*各プロセス室の一例です。
以下限りではなく、ご相談可能です。仕様によっては下記数値が異なります。
到達圧力 | ステージ 温度 |
面内分布 (参考値) |
成膜、加工又は応用例 | プラズマ源 | |
スパッタ | 6.7E-5Pa以下 | 冷却(冷却性能別途協議)~700度 | ±1~5% | 金属、誘電膜、絶縁膜 | DC |
Pulse DC | |||||
RF | |||||
エッチャー | 1.0E-3Pa以下 | -20~200度 | ±5%以下 | 金属、誘電膜、絶縁膜、Si系 | CCP |
ISM (Inductively Super Magnetron、当社特許) |
|||||
NLD (Neutral Loop Discharge、当社特許) |
|||||
アッシャー | 0.7Pa以下 | 50~250度 | ±5% | Descum、Desmear, 犠牲層除去、表面改質、PR除去、PI加工 | Microwave |
20~80度 | Microwave+CCP | ||||
PE-CVD | 2Pa以下 | 60~400度 | ±1%以下 | 絶縁膜(SiNx,SiOx) | Anode coupling |
Dual Frequency |
さまざまなモジュールが搭載可能(以下一例です)
※プロセスによって組合せ不可の場合がありますので、ご相談ください。
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