工程 |
手法 |
対象材料 |
成 膜 |
スパッタ |
各種金属(Al、Ti、V、Cr、Ni、Cu、Zr、Nb、Mo、Ag、Ta、W、Pt、Au、Pt-Pd、WSi、ITO、SUSなど), 誘電体(SiO2、PZT) |
CVD |
SiO2、SiN、SiON、TEOS、a-Si、カーボンナノチューブ |
蒸着 |
各種金属(Li、B、C、Mg、Al、Si、Sc、Ti、V、Cr、Fe、Co、Ni、Cu、Ge、Zr、Nb、Mo、Ru、Rh、Pd、,Ag、In、Sn、Ta、W、Pt、Au、Bi)
化合物(SiO2、TiO2、Cr2O3、ITO、Ta2O5、ZuO) |
エッチング |
ドライエッチング(NLD、ICP) |
シリコン、ガラスのディープエッチング、各種金属、誘電体、犠牲層エッチング |
ウェットエッチング |
HF、TMAH、KOH、各種金属 |
化学表面修飾 |
ノズル、化学分析用チップ、μ -TAS、ライフサイエンス向けのチップ(DNA, peptide / proteinマイクロアレイ)等 |
熱酸化 |
精密温度制御管状炉での酸化膜形成 |
アニール |
真空、各種ガス雰囲気中での基板アニール |
フォトリソ |
コンタクトアライナーによる片面・両面露光 i線ステッパーによるサブミクロンパターニング マスクの設計から製作まで対応 |
洗浄 |
超音波、UV、RCA洗浄 |
陽極接合 |
シリコンとパイレックスガラスとの接合 |
実装 |
ダイシング |
シリコン、ガラス、SiC、サファイアなど |
ワイヤーボンディング |
Au、Al ワイヤー |
計測 |
質量分析、三次元計測
(レーザー顕微鏡による三次元測定、SEM、エリプソ、ICP-Mass、Hgプローブ、XRD、ウエハダズトモニタ) |
シリコン、ガラス、金属対応 |
表面研摩 |
メッキ、CMP |
各種材料 |