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評価分析サービス

アルバックグループの分析評価装置を用いた分析サービスを行います。

PHI Quantera Ⅱ TM
走査型Ｘ線光電子分光分析装置

PHI TRIFT V nano TOFTM
飛行時間型二次イオン質量分析装置


PHI 700
走査型オージェ電子分光分析装置


LIX-2
レーザ熱膨張計


TC-9000
レーザーフラッシュ法による熱定数測定装置
新素材の熱伝導性評価に不可欠

 

分析評価装置

内容

会社

AES：PHI 700

表面元素分析

アルバック・ファイ(株)

SIMS：PHI TRIFT nano TOF

表面微細領域有機・無機分析

ESCA：PHI Quantera Ⅱ

微細領域及び深さ方向分析

レーザ熱膨張計：LIX-2

精密膨張測定

アルバック理工(株)

レーザフラッシュ法熱定数測定装置：TC-9000

熱拡散率、比熱容量、熱伝導率の測定


お問合わせ先

アルバック・ファイ株式会社   http://www.ulvac-phi.com

アルバック理工株式会社   http://www.ulvac-riko.co.jp/