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ニュース 一覧

2012年1月24日

新型触針式表面形状測定器「DektakXT」を販売開始
―測定パフォーマンスを大幅に向上―
株式会社アルバック
   

2011年12月1日

三次元構造デバイス向けシリサイドプロセス用成膜装置 「ENTRONTM-EX2 W300 CVD-Ni/CVD-Co」を開発、販売開始
株式会社アルバック
   

2011年11月24日

会員制急速充電サービスを行う合同会社に出資
株式会社アルバック
   

2011年11月17日

熱電材料の研究開発に最適で、測定時間を大幅に短縮可能なレーザフラッシュ法熱定数測定装置「TC-1200RH」を販売開始
アルバック理工株式会社
   

2011年9月29日

コイルセンター、コンバーティング業界向け
新表面欠陥検出装置「MSC9000」を開発、販売
日本リライアンス株式会社
   

イベント 一覧

2012年2月

国際ナノテクノロジー総合展・技術会議

開催期日：2月15日〜17日
開催場所：東京ビッグサイト
ナノテクノロジーのシーズとニーズに即して、産学の開発、実用化状況を明らかにし、産業革新を図る総合展
出展会社(予定)：アルバックテクノ
[国際ナノテクノロジー総合展・技術会議オフィシャルサイト]
   
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